5月29日，JBD宣布成功將MicroLED微顯示的壞點數(shù)從單屏≤100個降至≤3個。這一突破不僅標志著MicroLED微顯示達到了LCD等成熟顯示技術(shù)的品控水準，更樹立了MicroLED微顯示行業(yè)壞點指標的新基準。

壞點品控新水準

壞點與暗點的數(shù)量一直是衡量MicroLED微顯示產(chǎn)品可靠性和技術(shù)成熟度的關(guān)鍵指標。此前，受限于技術(shù)水平和生產(chǎn)工藝，行業(yè)內(nèi)普遍面臨單屏壞點數(shù)量接近100個的技術(shù)瓶頸，這在一定程度上阻礙了消費級AR終端的普及應(yīng)用。為了打破這一技術(shù)制約，JBD近年來持續(xù)深入MicroLED微顯示核心技術(shù)研究，將微顯示屏的壞點數(shù)降至單屏≤3個，其中0壞點完美屏的比例大幅提升。

不止于此，暗點同樣是MicroLED微顯示領(lǐng)域長期被忽視的技術(shù)挑戰(zhàn)，它直接影響畫面均勻性與成像質(zhì)量。通過技術(shù)升級，JBD將單屏暗點率從高達0.4%降至0.03%的極低水平，再結(jié)合JBD獨有的Demura像素亮度補償算法，大幅度提高像素亮度均勻性。

壞點與暗點對顯示質(zhì)量和用戶體驗有著較大的影響，死點會在圖像中形成明顯的黑色斑點，破壞畫面的完整性和細節(jié)表現(xiàn)；暗點則會使圖像出現(xiàn)灰暗瑕疵，影響色彩準確性和畫面均勻性。在高對比度或明亮場景中，這些缺陷尤為顯眼，容易分散用戶注意力，降低視覺沉浸感。減少壞點和暗點，可以有效避免圖像殘缺、顏色暗淡失真等問題，顯著提升畫面的完整性和均勻性，在提升AR近眼顯示場景的視覺質(zhì)量方面起著至關(guān)重要的作用。

技術(shù)工藝、設(shè)備管理全方位改進

提升微顯示屏壞點和暗點的品控水準是一項復(fù)雜的系統(tǒng)工程，上述突破性進展得益于JBD在技術(shù)迭代、工藝優(yōu)化、缺陷分析及精益管理等多方面的持續(xù)投入與協(xié)同發(fā)力。

技術(shù)層面，JBD通過改善外延結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)材料密度的均勻分布。同時，創(chuàng)新的工藝確保像素級的均勻驅(qū)動。設(shè)備和制造方面，引進先進設(shè)備提升加工精度。生產(chǎn)管理方面，在各道工藝增設(shè)檢測流程，對關(guān)鍵環(huán)節(jié)進行嚴格監(jiān)控與精準治理，確保整個生產(chǎn)過程符合最高質(zhì)量標準。

以上不僅是JBD技術(shù)創(chuàng)新與生產(chǎn)工藝大幅提升的體現(xiàn)，更標志著MicroLED微顯示正在步入應(yīng)用成熟期。隨著AI技術(shù)的飛速發(fā)展，人們對輕量化AR眼鏡作為全天候AI助手的需求日益增長。MicroLED微顯示技術(shù)憑借其高亮度、小體積、低功耗等卓越表現(xiàn)，正逐漸成為輕量化AR眼鏡的首選方案。壞點和暗點品控水準的大幅進步，將進一步鞏固JBD在近眼顯示場景的優(yōu)勢。

來源：JBD顯耀顯示