2024年11月18-21日，第十屆國際第三代半導體論壇（IFWS2024）&第二十一屆中國國際半導體照明論壇（SSLCHINA2024）、先進半導體技術應用創新展（CASTAS）將在蘇州國際博覽中心舉辦。 本屆論壇由蘇州實驗室、第三代半導體產業技術創新戰略聯盟（CASA）、中關村半導體照明工程研發及產業聯盟（CSA）主辦，國家第三代半導體技術創新中心（蘇州）(NCTIAS)、江蘇第三代半導體研究院、北京麥肯橋新材料生產力促進中心有限公司承辦。
目前，論壇的”第三代半導體標準與檢測研討會“日程出爐，工業和信息化部電子第五研究所研究員陳媛、第三代半導體產業技術創新戰略聯盟副秘書長高偉受邀將共同主持研討會。
屆時，重慶大學教授曾正，清純半導體（寧波）有限公司研發總監孫博韜，忱芯科技（上海）有限公司總經理毛賽君，深圳平湖實驗室失效分析首席專家何光澤，工業和信息化部電子第五研究所研究員雷志鋒，南京大學副研究員周峰，東南大學博士后李勝，廣東工業大學教授賀致遠等來自產學研用不同環節的專家們齊聚，分享精彩主題報告，共同探討相關標準、檢測技術、解決方案以及技術研究進展，敬請關注！
分會詳細日程
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第三代半導體標準與檢測研討會 The Advanced Semiconductor Standard and Testing Seminar |
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時間：2024年11月20日 地點：蘇州國際博覽中心G館 • G103-104 Time: Nov 20, 09:00-12:00 Location: Suzhou International Expo Centre • G103-104 |
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主持人 陳媛 工業和信息化部電子第五研究所 研究員 Moderato 高偉 第三代半導體產業技術創新戰略聯盟 副秘書長 |
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14:00—14:10 |
領導致辭 |
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14:10—14:30 |
SiC功率器件開關動態測試方法十議：T/CASAS 033-2024標準解讀 曾 正 教授 重慶大學 |
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14:30—14:50 |
基于SiC MOSFET可靠性標準的產品驗證與失效機制 孫博韜 研發總監 清純半導體（寧波）有限公司 |
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14:50—15:10 |
SiC MOSFET標準體系符合性測試設備挑戰與整體解決方案 毛賽君 總經理 忱芯科技（上海）有限公司 |
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15:10—15:30 |
面向SiC/GaN功率器件失效分析的測試技術與典型應用 何光澤 失效分析首席專家 深圳平湖實驗室 |
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15:30—15:40 |
休息 |
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15:40—16:00 |
面向新能源應用的電力電子器件大氣中子單粒子燒毀風險評估技術 雷志鋒 研究員 工業和信息化部電子第五研究所 |
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16:00—16:20 |
面向寬禁帶半導體GaN應用的紫外脈沖激光輻照實驗技術 周 峰 副研究員 南京大學 |
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16:20—16:40 |
GaN HEMT功率器件壽命預測SPICE模型研究 李 勝 博士后 東南大學 |
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16:40—17:00 |
動態應力下GaN功率器件閾值電壓不穩定性機理研究 賀致遠 教授 廣東工業大學 |
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17:00—17:30 |
交流與討論 |
參會聯系
