2024年4月8-11日，一年一度化合物半導體行業盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導體產業博覽會（簡稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會展中心舉辦。中導光電設備股份有限公司將攜新品亮相本屆盛會，誠邀業界同仁蒞臨A312展臺參觀、交流合作。

本屆CSE博覽會由第三代半導體產業技術創新戰略聯盟、九峰山實驗室共同主辦，以“聚勢賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導體制造技術專家、行業領袖和創新者，采用“示范展示+前沿論壇+技術與商貿交流”的形式，為產業鏈的升階發展搭建供需精準對接平臺，助力企業高效、強力拓展目標客戶資源，加速驅動中國化合物半導體產業鏈的完善和升級。

 CSE作為2024年首場國際化合物半導體產業博覽會得到了多方力量的大力支持，三大主題展區，六大領域，將集中展示各鏈條關鍵環節的新技術、新產品、新服務，將打造化合物半導體領域的標桿性展會。助力打造全球化合物半導體平臺、技術、產業的燈塔級盛會，集中展示化合物半導體上下游全產業鏈產品，搭建企業發布年度新產品新技術的首選平臺，支撐產業鏈及中部地區建設具有全球影響力的萬億級光電子信息產業集群。

中導光電設備股份有限公司創立于2006年，是一家由海歸資深專家團隊創立的半導體和平板顯示工業高端光學檢測領域的中國解決方案提供商。公司主營業務以平板顯示（FPD）產業高端自動光學檢測設備（AOI）為主導，以集成電路（IC）工業制程高端檢測設備為前沿。在FPD領域，公司的AOI產品形成了完整的產品家族，檢測靈敏度達到亞微米級，技術達到國際先進、國內領先水平；在IC領域，檢測設備產品覆蓋制造過程的檢測和量測兩個主要應用領域，并成功進入客戶產線應用。公司核心技術源于自主知識產權，累計獲得國內外各類知識產權逾百件。公司承擔了國家、省和市級多項重大科研項目，致力于為半導體和平板顯示工業客戶提供快速高質的定制化設備和技術解決方案。 

產品介紹

晶圓自動光學檢測系統 NanoPro-1XX系列

NanoPro-100系列產品是中導光電首臺推向市場的納米圖形晶圓缺陷檢測設備，適用于0.13-0.18um工藝產線的IC有圖形和無圖形晶圓缺陷檢測。 

晶圓自動光學檢測系統 NanoPro-2XX系列

NanoPro-200系列產品是中導光電推向市場的第二代納米圖形晶圓缺陷檢測設備，其適用于65nm-0.11um工藝產線的IC有圖形和無圖形晶圓缺陷檢測。 

晶圓自動光學檢測系統 MDI

MDI產品是中導光電推向市場的亞微米級晶圓缺陷檢測設備，適用于0.5-1um工藝產線的IC有圖形和無圖形晶圓缺陷檢測。

值此之際，我們誠邀業界同仁共聚本屆盛會，蒞臨展位現場參觀交流、洽談合作。

關于JFSC&CSE 2024